超快速高低溫氣流沖擊試驗機
簡要描述:超快速高低溫氣流沖擊試驗機適用于各類閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、半導體芯片、電子行業(yè)等進行IC 特性分析、溫度沖擊測試、高低溫循環(huán)測試失效分析等可靠性試驗。
- 產(chǎn)品型號:
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-12-05
- 訪 問 量:6107
超快速高低溫氣流沖擊試驗機技術(shù)參數(shù):
外形尺寸:W(寬)660mm*H(高)1120mm*D(深)1040mm
溫度范圍:-80℃至+250℃
控制精度:±0.5℃
沖擊氣流量:4~18SCFM(1.8~8.5L/S)
沖擊速率:-55度 +125度,恢復時間≤10S
超快速高低溫氣流沖擊試驗機控制系統(tǒng)
1.15寸超大人機介面
2.支持USB、LAN,可實現(xiàn)電腦手機遠程操控
3.二種檢測模式:AIR NODE 和DUT MODE
4.運行模式
1)手操:手動切換/自動循環(huán)。
2)程序:手動切換/ 自動循環(huán)。
超快速高低溫氣流沖擊試驗機工作原理:
1、試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,從而完成相應的高低溫沖擊試驗;
2、可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快
超快速高低溫氣流沖擊試驗機滿足試驗標準:
1.GB/T 2423.1-2008試驗A:低溫試驗方法;
2.GB/T 2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法;
3.GB/T2423.22-2012試驗N: 溫度變化試驗方法
4. GJB/150.3-2009高溫試驗
5. GJB/150.4-2009低溫試驗
6. GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗
超快速高低溫氣流沖擊試驗機工作模式:
A)2路主空氣管輸出,由分布頭分為8路供氣,帶2套1拖8 系統(tǒng)
B) 2種檢測模式Air Mode和DUT Mode
測試和循環(huán)于高溫/常溫/低溫(或者不要常溫)
超快速高低溫氣流沖擊試驗機可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快。
是將被控制溫度的壓縮機空氣從氣嘴噴射出來,僅僅只需要數(shù)秒鐘的時間就可以達到一個溫度試驗必須的環(huán)境,與普通的高低溫沖擊試驗箱相比較,大大的縮短了試驗時間,提高生產(chǎn)效率。